
![]() 比表面積分析儀 |
1.實驗室儀器,樣品需求量約0.05g~0.2g,樣品型態為粉末,必須先告知內容物之成分。 |
![]() 傅立葉轉換紅外光光譜儀 (BRUKER T-27) |
1、主要測量一般粉體樣品之紅外線吸收光譜。 3、校內委託:1000/件 |
![]() 精密電化學阻抗分析儀 |
1、主要檢測材料電化學性質。 2、校內委託:1500/Day |
![]() 熱微分掃瞄卡計 DSC, TA Q20 |
1、主要用於檢測材料的融點、玻璃轉移溫度、硬化反應之反應熱結晶溫度。 |
![]() 熱重分析計 TGA, TA Q50 |
1、主要檢測材料的熱裂解溫度.材料成份分析。 |
![]() 動態機械分析儀 DMA, Q-8000 |
1、本實驗室DMA測試樣品可為塊材(長10~40mm、寬7mm以下、厚約2mm)或粉末狀,塊材樣品請勿有氣泡產生。 2、本實驗室測試溫度範圍400℃以下,測試前請先做過熱重分析儀(TGA)。 校內委託:1500/件 校外委託:2000/件 廠商委託:3000/件 負溫須加收200(液氮費用) 連絡電話:07-5251590 |
![]() 流變儀 (Anton Paar, MCR301) |
1、實驗室儀器,樣品需求量約0.5g,須告知樣品型態(稠狀流體、熱塑性固體等)。 3、校內委託:1500/件 3、設備費:熱固型材料需自付耗材費(廠商報價) 若需調控測試環境溫度800/指定溫度 變溫100/10℃ |
![]() 接觸角儀器 Dataphysics (OCA 20) |
1、可適用於物質表面之非孔性,孔性及粉體及固體等基材表面之判斷 1. 校內委託:500/件 2. 校外委託:1000/件 3. 廠商委託:2000/件 連絡電話:07-5251590 |
![]() GPC層析系統儀器 (JASCO) |
1、一般服務:測量一般物質之分子量、滯留時間等 2、可使用THF、DMF系統
RI偵測器 靜態光散射 黏度 可測量"相對分子量" |
![]() 原子力顯微鏡 (AFM)(Hitachi) |
1、樣品奈米級表面形貌 。 2、樣品表面摩擦力大小分佈圖 。 3、測量樣品表面Phase分佈圖 校內委託:2000/時段 校外委託:3000/時段 廠商委託: 4000/時段 1時段為3小時 探針2000/支 連絡電話:07-5251590 |
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本機適用以下用途:
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本機適用以下用途: 另外提供鍍金鍍碳服務: |
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請洽科技部官方網站中山大學貴重儀器申請 |
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性能說明: 可激發 excitation 範圍 200-900 nm可接收emission範圍 200-900 nm 主要規格: Light source:150W xenon lamp Detector:Photomultiplier tube Resolution:1.0 nm
校內委託:500/hr 請洽科技部官方網站中山大學奈米中心申請 |
紫外光/可見光/近紅外光 光譜儀 |
1. 190 to 2700 nm 2. 可測量液體
校內委託:500/個 連絡電話:07-5251590 |
多套真空系統及抽風櫃 |
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CV |
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旋轉塗佈 |
刮刀塗佈 |
![]() 低温反應器 |
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烘箱 |
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真空烘箱 |
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程式型烘箱 |
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管柱型高温爐 |
箱型高温爐 |
濃縮機 |
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電子天平 |
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UV 反應器 |
直流攪拌機 |
離心機 |
温度控制器 |
藥品櫃 |
低温冰箱 |
超音波洗淨器
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液態氮存儲桶
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