設備儀器Instrument

表面積分析


比表面積分析儀
BET (ASAP2020)

1.實驗室儀器,樣品需求量約0.05g~0.2g,樣品型態為粉末,必須先告知內容物之成分。

2.本實驗過程會經過真空加溫乾燥(100~300oC),請先告知裂解溫度並且在高溫或者真空下不會產生化學變化或者熔化。
校內委託:2500/件
校外委託:5000/件
廠商委託:7000/件

連絡電話:07-5251590


比表面積分析儀

(Belsorp Max)

 

1.實驗室儀器,樣品需求量約0.05g~0.2g,樣品型態為粉末,必須先告知內容物之成分。

2.本實驗過程會經過真空加溫乾燥(100~300oC),請先告知裂解溫度並且在高溫或者真空下不會產生化學變化或者熔化。
校內委託:2500/件
校外委託:5000/件
廠商委託:7000/件

連絡電話:07-5251590


接觸角儀器
Dataphysics (OCA 20)
可適用於物質表面之非孔性,孔性及粉體及固體等基材表面之判斷
校內委託:1000/件
校外委託:1500/件
廠商委託:2000/件
連絡電話:07-5251590

熱分析


熱示差分析儀
DSC, TA Q20

1、主要用於檢測材料的融點、玻璃轉移溫度、硬化反應之反應熱結晶溫度。
2、實驗溫度範圍:-90℃ →300 ℃
校內委託:1000/hr
校外委託:1500/hr
廠商委託:2000/hr
鋁盤200/件
(可自備)
連絡電話:07-5251590


熱示差分析儀
DSC, TA Q20 (無冷凝機)

1、主要用於檢測材料的融點、玻璃轉移溫度、硬化反應之反應熱結晶溫度。
2、實驗溫度範圍:-90℃ →300 ℃
校內委託:1000/hr
校外委託:1500/hr
廠商委託:2000/hr
鋁盤200/件
(可自備)
連絡電話:07-5251590


熱重分析計
TGA, TA Q50

1、主要檢測材料的熱裂解溫度.材料成份分析。
2、 實驗溫度範圍:30 ℃ →800 ℃
校內委託:1000/hr
校外委託:1500/hr
廠商委託:2000/hr
連絡電話:07-5251590


動態機械分析儀
DMA, Q-8000
1、本實驗室DMA測試樣品可為塊材(長10~40mm、寬7mm以下、厚約2mm)或粉末狀,塊材樣品請勿有氣泡產生。
2、本實驗室測試溫度範圍400℃以下,測試前請先做過熱重分析儀(TGA)。
校內委託:1500/件
校外委託:2000/件
廠商委託:3000/件
負溫須加收200(液氮費用)
連絡電話:07-5251590

流變儀
(Anton Paar, MCR301)

1、實驗室儀器,樣品需求量約0.5g,須告知樣品型態(稠狀流體、熱塑性固體等)。
2、實驗溫度範圍: -20~400℃

3、校內委託:1500/件
校外委託:2000/件
材光系內委託:100/hr
廠商委託:3000/件

3、設備費:熱固型材料需自付耗材費(廠商報價)

若需調控測試環境溫度800/指定溫度

變溫100/10

閃射法熱傳導分析儀

 (Laser Flash Thermal Conductivity Analyzer)

Netzsch LFA 467 HyperFlash

 

  • 功能
    • 測量熱物性:主要用於精確測量材料的熱擴散係數、比熱和導熱係數。 
    • 寬廣的溫度範圍:可在-100°C 至500°C 之間進行測量,部分型號甚至可達1250°C。 
    • 高資料採集速率:資料採集速率高達2 MHz,能有效測量傳熱時間極短的高導熱薄層材料。 
    • 多樣品測量:具備自動進樣器,可一次連續測量多達16 個樣品,大幅縮短測試時間。 
    • 多樣品類型:可測量多種材料,包括各向異性材料、多層結構、薄膜、纖維、粉末、熔融金屬等。 
校內委託:2500/hr
校外委託:3500/hr
廠商委託:4500/hr

 

ADVANCE RIKO ZEM-3

 

該儀器的主要功能是測量材料的熱電特性,特別是塞貝克係數(Seebeck coefficient)和電阻(electrical resistance)。 其具體功能如下:
  • 測量範圍廣泛:可用於半導體、陶瓷、金屬等各種材料的熱電特性評估。 
  • 精確控制:採用紅外線金像爐和微型加熱器,可精確控制溫度和溫差。 
  • 自動化測量:測量過程由電腦控制,可自動進行測量,並能消除暗電動勢(dark electromotive force)等影響。 
  • 接觸狀況檢查:標準配備樣品和引線的接觸狀況確認功能,可繪製V-I 圖。
校內委託:2500/hr
校外委託:3500/hr
廠商委託:4500/hr

光譜分析

傅立葉轉換紅外線光譜儀

(FTIR Spectrometer)

  • 多模式檢測:可從簡單的FTIR 升級為全自動多光譜範圍系統,能擷取從遠紅外線到可見光的光譜。 
  • 一鍵式操作:透過儀器上的實體按鍵,可啟動ATR、拉曼(Raman)和近紅外(NIR)模組,無需手動更換系統元件。 
  • 光學設計:採用專利光學設計,可搭配各種光學功能元件,提供更全面和確切的分析結果。 
  • 高解析度與靈敏度:具備高解析度、高靈敏度和快速掃描功能,能快速收集高品質光譜資料。 
  • 軟體功能:軟體支援自動實驗設定、智能光譜解析、多種譜庫檢索與建庫方法、以及連續即時系統診斷等功能。 

校內委託:1000/個
校外委託:1500/個
廠商委託: 2000/個

連絡電話:07-5251590

Shimadzu RF-6000 螢光光譜儀

(RF-6000)

  • 多種光譜技術:可量測螢光、磷光、化學發光和生物發光等多種訊號,並支援高速3D 掃描以快速擷取光譜。 
  • 高靈敏度與穩定性:具有高靈敏度和寬動態範圍,能夠進行螢光量子產率和螢光量子效率的量測。 
  • 廣泛應用領域:可用於臨床診斷、環境、材料以及食品飲料等領域。 例如,在DNA 檢測中,可使用螢光染料標記的DNA 探針來偵測特定互補DNA。 
  • 高速掃描:掃描速度可達60,000 nm/分鐘,能大幅縮短掃描時間。

校內委託:1000/個
校外委託:1500/個
廠商委託: 2000/個


紫外光/可見光/近紅外光 光譜儀
(V-770 UV-Visible-Near IR)

1.  190 to 2700 nm

2.  可測量液體

 

校內委託:1000/個
校外委託:1500/個
廠商委託: 2000/個

連絡電話:07-5251590

模組化共軛焦顯微拉曼光譜儀

(HORIBA iHR320光譜儀)

 

    功能特色
    • 高光學效能: 採用非對稱Czerny-Turner 設計,焦距為0.32 公尺,可提供優異的光譜解析度和光通量。
    • 多功能性: 可搭載最多三片光柵,並具有兩個入口和兩個出口,可搭配多通道偵測器(如CCD)或單通道偵測器(如PMT)使用。
    • 耐用與穩定: 儀器主體採用一體成型鑄鋁設計,結構堅固,穩定性高,適合進行高難度量測。
    • 軟體控制: 搭配HORIBA 獨家研發的LabSpec6 控制軟體,可輕鬆完成測量分析。

校內委託:1000/個
校外委託:1500/個
廠商委託: 2000/個

連絡電話:07-5251590

奈米粒徑及Zeta電位分析儀

 

Nanotrac Wave II 的主要功能是利用動態光散射(DLS)技術,測量奈米至微米範圍內顆粒的粒徑分佈、Zeta電位、濃度和分子量

校內委託:1500/個
校外委託:2500/個
廠商委託: 3500/個

連絡電話:07-5251590

色譜分析


GPC層析系統儀器
(JASCO)

1、一般服務:測量一般物質之分子量、滯留時間等

2、可使用DMF系統

 

RI偵測器 靜態光散射 黏度 可測量"相對分子量"
校內委託:2000/件(DMF)
校外委託:3000/件(DMF)
廠商委託:5000/件(DMF)
連絡電話:07-5251590

 

島津(Shimadzu)GC-2010 Plus

氣相層析儀

 

  • 高靈敏度分析: 透過先進的流量控制技術,可進行高靈敏度的微量分析。 
  • 快速分析: 具備高速升溫及冷卻技術,能有效縮短分析時間,提高分析效率。 
  • 高分離能力: 採用毛細管柱系統,可提供高解析度的分離效果,適用於複雜樣品的分析。 
  • 多樣化偵測器: 可配備多種偵測器,例如火焰離子化偵測器(FID) 和質譜儀(MS) 等,以滿足不同的分析需求。
  • 校內委託:2000/件
    校外委託:3000/件
    廠商委託:5000/件

GPC層析系統儀器
(JASCO)

1、一般服務:測量一般物質之分子量、滯留時間等

2、可使用THF系統

 

RI偵測器 靜態光散射 黏度 可測量"相對分子量"
校內委託: 1200/件(THF)
校外委託: 2200/件(THF)
廠商委託: 4200/件(THF)
連絡電話:07-5251590

電化學分析

恆電位/電流儀

(Autolab PGSTAT302N)

  • 高性能:作為PGSTAT30的後繼型號,PGSTAT302N擁有高階的效能,特別是在電化學阻抗頻譜(EIS)的測量方面。
  • 模組化設計:其模組化的特性允許使用者根據具體的實驗需求,搭配不同的硬體模組,例如FRA32M模組,以專門進行電化學阻抗頻譜分析。
  • 高電流能力:最大電流可達2A。透過加裝電流增幅器(例如BOOSTER20A),可將最大電流範圍擴展至20A,適用於需要高電流的應用。
  • 高規格電氣性能
    • 順應電壓:具有30V的高順應電壓。
    • 頻寬:頻寬高達1MHz。
    • 電流解析度:在10nA電流範圍內,電流解析度可達30fA。
  • 校內委託:2500/件
    校外委託:3500/件
    廠商委託:4500/件

精密電化學阻抗分析儀
ZAHNER ZENNIUM
(CHI 6273E Electrochemical Analyzer)

1、主要檢測材料電化學性質。
量測模式:
①循環伏安法(CV)
②計時電位法(GCD)

2、校內委託:1500/Day
校外委託:3000/Day
廠商委託:5000/Day
連絡電話:07-5251590

(註:一天至多委測一個樣品,一天內無法量測完成之樣品,價格則依量測時間為準)

CH Instruments 電化學工作站

(CH Instruments 600D)

 

  • 材料科學:用於新材料的開發,例如電池和燃料電池的電極材料。
  • 腐蝕研究:評估材料的耐腐蝕性能,並開發防護措施。
  • 生物醫學:開發用於疾病檢測的生物感測器和研究藥物傳輸系統。
  • 環境監測:用於檢測水和土壤中的污染物和重金屬。
校內委託:2500/件
校外委託:3500/件
廠商委託:4500/件

顯微鏡分析


原子力顯微鏡
(AFM)(Hitachi)
1、樣品奈米級表面形貌 。
2、樣品表面摩擦力大小分佈圖 。
3、測量樣品表面Phase分佈圖
校內委託:2000/時段
校外委託:3000/時段
廠商委託: 4000/時段
1時段為3小時
探針2000/支
連絡電話:07-5251590


超薄切片機
(Ultramicrotome)

本機適用以下用途:
軟性物質(高分子、生物試片)小標本之切片。
混摻物質的小標本切片。
一般光學顯微鏡及電子顯微鏡之試片製備。


校內委託:2000/個
校外委託:3000/個
廠商委託: 4000/個

連絡電話:07-5251590


掃描式電子顯微鏡
(SEM-JEOL-JSM6380)

本機適用以下用途:
軟性物質(高分子、生物試片)。
禁止磁性物質
委託:3000/一個時段 3hr

另外提供鍍金鍍碳服務:
校內:1000/個
校外:1500/個
連絡電話:07-5251590


穿透式電子顯微鏡
(TEM-JEOL-2100)

請洽科技部官方網站中山大學貴重儀器申請

http://khvic.nsysu.edu.tw/khvic/JL/TEM-2100.htm

多套真空系統及抽風櫃

樣品製程設備

手套箱

電動磨粉機 RM200

旋轉塗佈

刮刀塗佈

低温反應器

 

冷凍乾燥機

離心機

(GYROZEN)

 

微型密煉機

(QE-70C)

實驗用小型熱壓機

(R32022020)

 

Anton Paar Monowave 400 微波合成反應器

(Monowave 400)

程式型烘箱

熱風循環精密烘箱

(DO45)

France Etuves 

(XFP 020)

FIRSTEK 可程式恆溫恆濕機(Programmable Temp. & Humid. Chamber)

Universal oven XU058

 

管柱型高温爐

箱型高温爐

濃縮機 & 小型超音波細胞破碎機Q125 & 高速多功能粉碎機

電子天平

UV 反應器

直流攪拌機

超音波洗淨器


液態氮存儲桶